新一代直讀光譜儀產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數及配置

性能特點(diǎn)

新一代直讀光譜儀OES8000s采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長(cháng)范圍內的所有譜線(xiàn)，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實(shí)驗室放置。OES8000s是測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿(mǎn)足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的較優(yōu)選擇。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶(hù)現場(chǎng)補充配置

儀器體積小巧，對實(shí)驗室空間要求低

工作時(shí)間長(cháng)，具有優(yōu)異的穩定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過(guò)程少于40秒

儀器使用和維護簡(jiǎn)單、方便，對人員專(zhuān)業(yè)要求低

原廠(chǎng)安裝分析程序，測試數據準確，適用合金牌號齊全

配置標準化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測試過(guò)程安全、環(huán)保

技術(shù)優(yōu)勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、準確、穩定、可靠測試幾十種元素，滿(mǎn)足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗、產(chǎn)品分選多方面檢驗需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的設備。

全譜檢測測試各種金屬和元素

基于CMOS檢測器全譜測試技術(shù)，測試各種金屬中元素的譜線(xiàn)，方便實(shí)現多基體、多元素的測試。

配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶(hù)處補充測試元素、分析程序。

國際頂級供應商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——CMOS探測器由日本濱松制造，確保譜線(xiàn)檢測靈敏、低噪聲

光室恒溫系統

光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內恒溫。

由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除特殊維護，平時(shí)保養一般不需進(jìn)行描跡。

同時(shí)檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉換性能的穩定。

快速同時(shí)分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內呈現測試結果。

可根據客戶(hù)需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見(jiàn)元素含量。

專(zhuān)業(yè)的測試方案

長(cháng)期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶(hù)提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類(lèi)的分析程序，滿(mǎn)足用戶(hù)各類(lèi)常見(jiàn)測試需求。

分析程序由原廠(chǎng)采用國際、國家標準樣品校準，經(jīng)專(zhuān)業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶(hù)只需采用原廠(chǎng)配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買(mǎi)大量制作分析程序的標準樣品。

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70%

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實(shí)驗室無(wú)震動(dòng)、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

技術(shù)性能及指標

1.   分光室設計

  帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm

  波長(cháng)范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

  間歇式真空系統，可保證真空泵運行時(shí)間小于5%

2.   凹面光柵

  刻線(xiàn)密度3600l/mm

  光譜線(xiàn)色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

  高性能線(xiàn)陣CMOS

4.   分析時(shí)間

  依樣品種類(lèi)而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

  全數字等離子火花光源技術(shù)

  高能預燃技術(shù) (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發(fā)臺

  3mm樣品臺分析間隙

  噴射電極技術(shù)

  特殊設計的氣路系統，保證低氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長(cháng)900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  大功率1500W

  待機功率70W